漏磁探傷設(shè)備探傷原理介紹

漏磁探傷設(shè)備是磁粉探傷儀的一種，該設(shè)備可以借助磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及其制品的缺陷情況。

漏磁探傷流程

設(shè)備利用工件充磁后在磁飽和狀態(tài)下，工件在缺陷處,因磁阻增大磁力線外逸的特點(diǎn),用線圈切割逸出的磁力線，經(jīng)計(jì)算機(jī)處理，根據(jù)傳感器線圈產(chǎn)生電勢(shì)的大小及信號(hào)頻域的不同,而確定缺陷的大小及內(nèi)外。漏磁探傷設(shè)備可以細(xì)分為:電器控制系統(tǒng)及傳動(dòng)、檢測(cè)裝置及信號(hào)處理系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)平臺(tái)、夾緊輥及傳輸機(jī)構(gòu)、噴標(biāo)系統(tǒng)。

電器控制系統(tǒng)及傳動(dòng)

儀器動(dòng)作描述：第一光電管檢測(cè)到鋼管是否已進(jìn)入探傷設(shè)備,PLC根據(jù)夾緊輥底輥編碼器檢測(cè)的速度、1-6個(gè)夾緊輥相應(yīng)動(dòng)作,探頭動(dòng)作,在探頭平穩(wěn)夾住鋼管后,檢測(cè)窗口打開(kāi),進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;處理的結(jié)果經(jīng)網(wǎng)絡(luò)反饋給PLC;在鋼管離開(kāi)NDT設(shè)備后,夾緊輥依次打開(kāi),探頭打開(kāi);PLC根據(jù)EDP結(jié)果,以不同顏色標(biāo)示缺陷類(lèi)型、位置、相應(yīng)的廢品、可疑品、合格品等相應(yīng)信息,通過(guò)結(jié)點(diǎn)信號(hào)傳遞給PLC,設(shè)備進(jìn)入下一個(gè)檢測(cè)循環(huán)。

檢測(cè)裝置及信號(hào)處理系統(tǒng)

信號(hào)處理要求專(zhuān)門(mén)的接口,一個(gè)非常重要的接口是把模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)相互轉(zhuǎn)換的ADC和DAC,另外大量的數(shù)據(jù)交換需要有高速的數(shù)據(jù)吞吐能力。從一開(kāi)始,DSP的結(jié)構(gòu)就是針對(duì)DSP算法模型進(jìn)行構(gòu)造的,幾乎所有的DSP都包含有DSP算法的特征。因此,數(shù)字信號(hào)處理的上述特點(diǎn)要求DSP必須是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的。